| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 儀器種類 | 臺式 |
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,綜合 | | |
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風(fēng)冷恒溫恒濕試驗箱用途：
適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于LED、光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
技術(shù)參數(shù)：
1、溫度范圍：0℃～150℃ -20℃～150℃ -40℃～150℃ -60℃～150℃ -70℃～150℃
2、濕度范圍：20%～98%R.H(溫度在25℃～80℃)
3、溫度波動度：≤±0.5℃
4、溫度均勻度：≤±2℃
5、濕度波動度：+2%、-3%R.H
6、升溫速度：1.0～3.0℃/min
7、降溫速率：0.7～1.2℃/min
8、時間設(shè)定范圍：0～9999h
9、電 源: 1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10%
產(chǎn)滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法； GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T2423.3-2006 試驗Cab：恒定濕熱試驗方法； GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件；
GB/T2423.4-2008 試驗Db：交變濕熱試驗方法； GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法； GJB150.3 高溫試驗；
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗箱試驗方法； GJB150.4 低溫試驗；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗箱試驗方法； GJB150.9 濕熱試驗；
IEC68-2-1 試驗A：寒冷； IEC68-2-2 試驗B：干熱；
風(fēng)冷恒溫恒濕試驗箱產(chǎn)規(guī)格及型號(單位:mm)：(W×H×D)
型號:AP-HX-80 內(nèi)形尺寸：400×500×400 外箱尺寸：970×1360×970
型號:AP-HX-150 內(nèi)形尺寸：500×600×500 外箱尺寸：1070×1460×1070
型號:AP-HX-225 內(nèi)形尺寸：500×750×600 外箱尺寸：1070×1610×1170
型號:AP-HX-408 內(nèi)形尺寸：600×850×800 外箱尺寸：1170×1710×1280
型號:AP-HX-800 內(nèi)形尺寸：1000×1000×800 外箱尺寸：1550×1850×1300
型號:AP-HX-1000 內(nèi)形尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1500
容積：80L 150L 225L 408L 800L 1000L
產(chǎn)品型號AP-HX
