恒定溫濕老化試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：恒定溫濕老化試驗(yàn)箱在規(guī)定的溫濕度范圍內(nèi)可隨意恒定任意溫度或者濕度,也可交變循環(huán)試驗(yàn).經(jīng)常用于研究或鑒定高分子材料耐老化性能的一種人工加速濕熱老化試驗(yàn)，也可用來研究或?qū)嶒?yàn)推算某些高分子材料的使用壽命。常用于測(cè)試工業(yè)產(chǎn)品（塑料、金屬、電子、電器、玩具、生活用品、家庭用具、辦公用品）等等一些試件在恒定的溫度和恒定的濕度環(huán)境中使用、運(yùn)輸、放置后其強(qiáng)度變化的試驗(yàn),也叫提前預(yù)測(cè)部分物品的抗老化程度試驗(yàn).

產(chǎn)品型號(hào)AP-HX
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-08
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恒溫恒濕試驗(yàn)室

低溫恒溫恒濕試驗(yàn)室高低溫測(cè)試箱高低溫試驗(yàn)機(jī) 高溫高濕濕熱箱電子防潮老化測(cè)試箱模擬環(huán)境濕熱氣候儀器防水耐熱測(cè)試箱恒溫恒濕老化試驗(yàn)箱高低溫溫濕度交變?cè)囼?yàn)箱耐寒耐熱試驗(yàn)箱調(diào)溫調(diào)濕環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備濕熱試驗(yàn)機(jī) 水冷溫箱濕熱檢測(cè)箱溫濕度控制箱溫濕度試驗(yàn)機(jī) 恒溫恒濕機(jī) LED恒溫恒濕試驗(yàn)箱 80L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 150L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 225L恒溫恒濕試驗(yàn)箱恒溫恒濕試驗(yàn)箱 408L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 800L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 1000L恒溫恒濕試驗(yàn)箱可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

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品牌	愛佩科技/A-PKJ	儀器種類	臺(tái)式
產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	價(jià)格區(qū)間	面議

恒定溫濕老化試驗(yàn)箱在規(guī)定的溫濕度范圍內(nèi)可隨意恒定任意溫度或者濕度,也可交變循環(huán)試驗(yàn).經(jīng)常用于研究或鑒定高分子材料耐老化性能的一種人工加速濕熱老化試驗(yàn)，也可用來研究或?qū)嶒?yàn)推算某些高分子材料的使用壽命。常用于測(cè)試工業(yè)產(chǎn)品（塑料、金屬、電子、電器、玩具、生活用品、家庭用具、辦公用品）等等一些試件在恒定的溫度和恒定的濕度環(huán)境中使用、運(yùn)輸、放置后其強(qiáng)度變化的試驗(yàn),也叫提前預(yù)測(cè)部分物品的抗老化程度試驗(yàn).
簡(jiǎn)易技術(shù)參數(shù)：
一、溫度范圍：A：0℃～＋150℃；B：-20℃～＋150℃；C：-40℃～＋150℃；D：-60℃～＋150℃；F：-70℃～＋150℃。
二：溫度波動(dòng)度:±0.5℃。
三：解析精度：±0.01℃。
四：溫度均勻度:±1.5℃。
五：升溫時(shí)間:平均每分鐘升溫約3℃，即常溫升至＋150℃小于40分鐘非線性空載。
六：降溫時(shí)間:平均每分鐘降溫約1℃，即常溫降至-70℃小于100分鐘非線性空載。
七：尺寸大小有：
80升（對(duì)應(yīng)的寬高深400*500*400mm);
150升（對(duì)應(yīng)的寬高深500*600*500mm);
225升（對(duì)應(yīng)的寬高深500*750*600mm);
408升（對(duì)應(yīng)的寬高深600*850*800mm);
800升（對(duì)應(yīng)的寬高深1000*1000*800mm);
1000升（對(duì)應(yīng)的寬高深1000*1000*1000mm)更多尺寸可以為車載導(dǎo)航儀非標(biāo)定制。
八：冷凍系統(tǒng)：風(fēng)冷單（或多）段自動(dòng)負(fù)載容量調(diào)整技術(shù)。
九：制冷系統(tǒng)的主要配件壓縮機(jī)：愛佩采用*“泰康”牌全封閉式壓縮機(jī)組或者“”半封閉式壓縮機(jī)組。
十：設(shè)備的冷卻方式：小型的風(fēng)冷扇式冷凝器，大型的則采用水冷式冷卻方式。
可實(shí)現(xiàn)高溫、低溫試驗(yàn)，還可以實(shí)現(xiàn)高低溫交變、高低溫濕熱交變、恒溫恒濕交變、高溫高濕恒定等試驗(yàn)功能與條件。
恒定溫濕老化試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)

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